Semiconductor Memories: Technology Testing and Reliability

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Description

Semiconductor Memories: Technology Testing and Reliability

Provides in depth coverage in the areas of design for testing fault tolerance failure modes and mechanisms and screening and qualification methods including: memory cell structures and fabrication technologies; application specific memories and architectures; and memory design fault modeling and test algorithms limitations and trade offs.
  • Identifiant Fruugo: 431396868-906085787
  • ISBN: 9780780310001

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