Digital Hardware Testing Transistor-level Fault Modeling And Testing
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Digital Hardware Testing Transistor-level Fault Modeling And Testing
Digital Hardware Testing Presents Realistic Transistor-level Fault Models And Testing Methods For All Types Of Circuits. The Discussion Details Design-for-testability And Built-in Self-test Methods, With Coverage Of Boundary Scan And Emerging Technologies Such As Partial Scan, Cross Check, And Circular Self-test-path.
- 品牌: Artech House
- 类别: 计算机与互联网
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语言: English
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作者: Artech House
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出版日期: 1992-12-19
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页数: 340
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出版社／标签: Artech House
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格式: Hardcover
- Fruugo ID: 556942379-1125184645
- ISBN: 9780890065808
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