High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability
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High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability
Part I: Preliminaries And Previous Work.- Circuits And Testing.- Boolean Satisfiability.- Atpg Based On Boolean Satisfiability.- Part Ii: Sat Techniques And Their Application In Atpg.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part Iii: High Quality Delay Test Generation.- High Quality Atpg For Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary And Outlook.
- 品牌: Springer Nature B.V
- 类别: 计算机与互联网
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语言: English
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作者: Stephan Eggersgl
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出版日期: 2014-10-20
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页数: 212
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出版社／标签: Springer Nature B.V
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格式: Paperback
- Fruugo ID: 557057426-1125325917
- ISBN: 9781489988478
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