Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests
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Nanometer Technology Designs High-quality Delay Tests
Supply Noise (including Ir-drop, Ground Bounce, And Ldidt) Effects On Chip Performance, High Test Pattern Volume, Low Faultdefect Coverage, Small Delay Defect Test Pattern Generation, High Cost Of Test Implementation And Application, And Utilizing Low-cost Testers Are Among These Challenges.
- 品牌: Springer Nature B.V
- 类别: 计算机与互联网
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语言: English
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作者: Mohammad Tehranipoor
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出版日期: 2008-01-16
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页数: 304
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出版社／标签: Springer Nature B.V
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格式: Hardcover
- Fruugo ID: 550925722-1115603932
- ISBN: 9780387764863
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