Semiconductor Memories: Technology Testing and Reliability

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描述

Provides in depth coverage in the areas of design for testing fault tolerance failure modes and mechanisms and screening and qualification methods including: memory cell structures and fabrication technologies; application specific memories and architectures; and memory design fault modeling and test algorithms limitations and trade offs.
  • 品牌: John Wiley & Sons Inc
  • 类别: 杂志
  • 语言: English
  • 作者: Ashok K. Sharma
  • 出版日期: 2022-02-18
  • 页数: 480
  • 出版社／标签: John Wiley & Sons Inc
  • 格式: Hardback
  • Fruugo ID: 431396868-906085787
  • ISBN: 9780780310001

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